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可測試性設計(DFT)存在於SoC設計的起點 - Synopsys

過去，IC 測試是設計流程中的最後一項工作。首先要設計出晶片，然後編寫功能性測試程式去驗證製造出來的晶片運作狀況是否如預期。功能測試程式中某些部分經常會被重複 ...

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