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半導體摻雜方式
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半導體摻雜製程的檢測方法 - Research NCKU
一種半導體摻雜製程的檢測方法,適用於檢測一半導體於摻雜過程中是否有金屬團簇析出,該檢測方法包含以下步驟:(A)以一高頻複數阻抗分析儀量測出所述半導體之阻抗頻譜 ...
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「半導體摻雜方式」
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P 型 與 n 型 半導體 摻 雜 後 的電 性 是否 改變
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