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半導體常用術語
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半導體製造|測試常見的英文縮寫名詞、專有名詞、商用縮寫
⚫ CP:Circuit Probing. 電路針測。指的是對Wafer做測試,用以驗證此Wafer上的好壞品狀況。 ⚫ CPK:Process ...
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