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顯微分光膜厚量測儀OPTM series - 大塚科技

顯微分光膜厚量測儀OPTM series將非接觸式膜厚測定必要的機能集中在一個量測頭，顯微分光下廣範圍的光學系統，最小對應spot約5μm，具有高再現性量測，絕對反射率光譜， ...

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