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高強度多功能X光薄膜微區繞射儀

... 光反射率(Reflectivity)量測薄膜厚度/密度及介面粗糙度。 另外在偵測器的部份亦使用最新的半導體高解析度偵測器(Lynxeye-XET)，其最大的特色是具有很好的能量解析度 ...

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