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顯微接物鏡式- 原子力顯微鏡Atomic Force Microscope

結合光學顯微鏡(OM)與原子. 力掃描探針顯微鏡(AFM)功能的奈米檢測. 儀器,檢測探頭採用奈米級光纖干涉儀,. 並內建三軸奈米掃描器,不需要複雜光路. 調整程序,兼顧體積小、高 ...

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