... 讓矽中介版的金屬線,可連接不同晶片的電子訊號;接著再透過矽穿孔(TSV)來連結 ... 塑膠封裝為主,主要ic封裝與測試(25)-失效分析(fa/qa) (9) + 3d光學顯微鏡(1) ...
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