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纺织材料学（第2版） - Google 圖書結果

(1)表面组成分析表面组成成分分析主要运用俄歇电子能谱(AES)、二次离子质谱(SIMS)和X 射线光电子能谱(XPS),分析深度在表面2nm左右。俄歇电子的能量因所激发的原子内层 ...

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