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俄歇能譜俄歇電子能譜_儀器信息網 - Sofsa

xps掃描這樣標注可以么,Na KLL俄歇譜峰如何解釋嗯，分析深度一般為微米（10-6 m）級別。 X射線光電子能譜儀（XPS）和俄歇電子能譜儀（AES）可對樣品進行表面元素分析， ...

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