你即將離開本站

並前往https://eag.com/zh-TW/techniques/mass-spec/tof-sims/

飛行時間二次離子質譜（TOF-SIMS）

飛行時間二次離子質譜（TOF-SIMS）是一種表面分析技術，可將脈衝的初級離子束聚焦到樣品 ... 分析這些次級離子可提供有關表面上存在的分子、無機和元素種類的信息。

確定！ 回上一頁

查詢 「二次」的人也找了：

  1. 二次函數
    2.
  2. 二次創作合理使用
    3.
  3. 二次創作英文
    4.
  4. 二次創作法律
    5.
  5. 二次創作條例
    6.
  6. 二次方程式公式
    7.
  7. 二次創作合法
    8.
  8. 二次創作著作權
    9.