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二次電子成像
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从放大镜到中子成像,物质波让我们一步步看清微观世界 - 领研网
SEM通常收集二次电子或背散射电子成像,聚焦电子束在某一时刻只能测量一个位置上的材料对电子的反射信号,要测量样品不同位置的材料特性就要不断移动 ...
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「二次電子成像」
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