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聚焦離子束斷層掃描分析技術介紹 - 材料世界網

三維成像分析是解讀材料空間分布與量化統計上不可或缺的技術， ... 由於離子束撞擊樣品能夠誘發二次電子與二次離子的產生，因此可以收集這兩種粒子 ...

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