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掃描式電子顯微鏡(SEM) - 華證科技VESP-半導體驗證服務引領 ...

利用電子束對樣品表面掃描,加速電子束掃描時會激發出二次電子、背向散射電子、特性X-ray, 收集二次電子或背向散射電子來成像, 特性X-ray可做成份分析。 應用場景. 觀察樣品 ...

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