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二次離子質譜
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聚合物表面的飞行时间二次离子质谱分析
飞行时间-二次离子质谱(ToF-SIMS) 是一种基于SIMS 的表面敏感技术,可提供表面分子的特定化合物识别。最近,ToF-SIMS 对聚合物、药物、半导体的表征和 ...
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