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Ar+共濺射與動態二次離子質譜術

在各種表面分析技術中，二次離子質譜儀(secondary ion mass spectrometry, SIMS)以極高的偵測靈敏度為優勢而佔有一席之地。SIMS 可協助. 解析各類材料，不論是無機材料中的 ...

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