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二次离子质谱仪SIMS

·利用质谱法分析由一定能量的一次离子轰击在样品靶上溅射产生的正、负二次离子。 二次离子质谱仪工作原理: 一定能量的离子轰击固体表面引起表面原子、分子 ...

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