你即將離開本站

並前往http://222.198.130.40:81/Qikan/Article/Detail?id=26985657

二次离子质谱分析技术及应用研究

二次离子质谱仪 (SIMS)的原理及应用[J].中国集成电路,2005(8):74-78. 被引量：4; 10余兴,王海舟,李小佳.辉光放电光源在分析应用上的改进及展望[J].分析仪器,2006(4):9-14 ...

確定！ 回上一頁

查詢 「二次離子質譜儀原理」的人也找了：

  1. tof sims分析
    2.
  2. 二次離子質譜儀ppt
    3.
  3. 飛行時間質譜儀原理
    4.
  4. sims縱深分析
    5.
  5. sims二次離子質譜
    6.
  6. tof sims xps比較
    7.
  7. sims表面分析
    8.
  8. sims半導體
    9.