你即將離開本站

並前往http://yiqi-oss.oss-cn-hangzhou.aliyuncs.com/aliyun/900100702/solution/5952.pdf

二次離子質譜儀(SIMS)

述SIMS的分析原理。常用於二次離子質譜儀的一次離子物種包括O2. +?/sup>AO-，. Cs+，Ar+，Xe+，Ga+ 等，另有少數離子物種也有被利用於較特殊分析應用。目前. 最常用的一次 ...

確定！ 回上一頁

查詢 「二次離子質譜儀原理」的人也找了：

  1. tof sims分析
    2.
  2. 二次離子質譜儀ppt
    3.
  3. 飛行時間質譜儀原理
    4.
  4. sims縱深分析
    5.
  5. sims二次離子質譜
    6.
  6. tof sims xps比較
    7.
  7. sims表面分析
    8.
  8. sims半導體
    9.