你即將離開本站

並前往https://m.mttlab.com/2015/0204/129.html

二次离子质谱仪（SIMS）分析方法介绍>> 测试项目案例

2.原理. 样品表面被高能聚焦的一次离子轰击时，一次离子注入被分析样品，把动能传递给固体原子，通过层叠碰撞，引起中性粒子和带正负电荷的二次离子 ...

確定！ 回上一頁

查詢 「二次離子質譜儀原理」的人也找了：

  1. tof sims分析
    2.
  2. 二次離子質譜儀ppt
    3.
  3. 飛行時間質譜儀原理
    4.
  4. sims縱深分析
    5.
  5. sims二次離子質譜
    6.
  6. tof sims xps比較
    7.
  7. sims表面分析
    8.
  8. sims半導體
    9.