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固體材料表面分析：二次離子質譜對生物樣品微區成像技術分享

TOF-SIMS的原理及特點飛行時間-二次離子質譜儀（TOF-SIMS），是一種非常靈敏的表面分析技術。它利用一次離子激發樣品表面微量的二次離子，根據二次 ...

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