你即將離開本站

並前往https://www.shiyanjia.com/knowledge-articleinfo-4855.html

二次离子质谱大科普！TOF-SIMS及D-SIMS实例分析

Secondary-ion-massspectroscope（SIMS）它是一种基于质谱的表面分析技术，二次离子质谱原理是基于离子 ... 二次离子质谱仪飞行时间(TOF-SIMS)。在这种质谱 ...

確定！ 回上一頁

查詢 「二次離子質譜儀原理」的人也找了：

  1. tof sims分析
    2.
  2. 二次離子質譜儀ppt
    3.
  3. 飛行時間質譜儀原理
    4.
  4. sims縱深分析
    5.
  5. sims二次離子質譜
    6.
  6. tof sims xps比較
    7.
  7. sims表面分析
    8.
  8. sims半導體
    9.