你即將離開本站

並前往http://m.anytesting.com/news/1939166.html

二次离子质谱仪SIMS分析技术简介

二次离子质谱仪 也称离子探针，是一种使用离子束轰击的方式使样品电离，进而分析样品元素同位素组成和丰度的仪器，是一种高空间分辨率、高精度、高 ...

確定！ 回上一頁

查詢 「二次離子質譜儀原理」的人也找了：

  1. tof sims分析
    2.
  2. 二次離子質譜儀ppt
    3.
  3. 飛行時間質譜儀原理
    4.
  4. sims縱深分析
    5.
  5. sims二次離子質譜
    6.
  6. tof sims xps比較
    7.
  7. sims表面分析
    8.
  8. sims半導體
    9.