雖然這篇sims原理鄉民發文沒有被收入到精華區：在sims原理這個話題中，我們另外找到其它相關的精選爆讚文章
[爆卦]sims原理是什麼？優點缺點精華區懶人包
你可能也想看看
搜尋相關網站
-
#1二次離子質譜- 維基百科，自由的百科全書
它的原理除了採用離子槍轟擊激發以外，其餘與質譜儀完全相同。SIMS一般採用四極質譜計，因為它結構簡單，而且體積較小。但是它檢測的相對分子質量範圍僅限於幾千以下。
-
#2二次離子質譜儀(SIMS) - MA-tek 閎康科技
二次離子質譜儀(SIMS). 技術原理. 材料經由帶有能量的入射離子轟擊而產生二次離子，二次離子經加速 ...
-
#3飛行時間二次離子質譜儀的原理與應用 - 台灣儀器科技研究中心
Time-of-flight secondary ion mass spectrometer (TOF-SIMS) is capable of simultaneously analyzing trace organic molecules and inorganic elements in mass ranging ...
-
#4飛行時間二次離子質譜（TOF-SIMS）
飛行時間二次離子質譜（TOF-SIMS）是一種表面分析技術，可將脈衝的初級離子束聚焦到樣品表面，在濺射過程中產生二次離子. 分析這些次級離子可提供有關表面上存在的分子、 ...
-
#5二次離子質譜分析儀(SIMS) - iST宜特
二次離子質譜分析儀(Secondary Ion Mass Spectrometer, SIMS)主要是利用離子高靈敏度的特性，針對樣品的表面微汙染、摻雜與離子植入的P/N濃度定量 ...
-
#6縱橫半導體檢測TOF-SIMS扮演要角- 電子技術設計
至於成份分析的儀器種類就更多了，依照設備的分析原理及其擅長的領域來劃分，首先是講求偵測靈敏度的儀器，如感應耦合電漿質譜儀(Inductively Coupled ...
-
#7二次离子质谱（SIMS）的原理特点和应用 - 分析测试百科网
二次离子质谱（secondary ion mass spectroscopy），是一种非常灵敏的表面成份精密分析仪器，它是通过高能量的一次离子束轰击样品表面，使样品表面的 ...
-
#8二次離子質譜儀(SIMS)
述SIMS的分析原理。 ... 低劑量的靜態二次離子質譜(Static SIMS)作表面分析用，以及高劑量的動態二. 次離子質譜(Dynamic SIMS)作總量分析(Bulk analysis)。
-
#9二次離子質譜儀_百度百科
Secondary-ion-mass spectroscope （SIMS）是一種基於質譜的表面分析技術，二次離子質譜原理是基於一次離子與樣品表面互相作用現象（基本原理如圖1所示）。
-
#10二次離子質譜儀 - 中文百科全書
Secondary-ion-mass spectroscope （SIMS）是一種基於質譜的表面分析技術，二次離子質譜原理是基於一次離子與樣品表面互相作用現象（基本原理如下圖所示）。
-
#11依分析方式
(Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometer (TOF-SIMS). 儀器廠牌型號. IONTOF, TOF.SIMS 4,Germany. 購入日期. 2003年. 儀器原理.
-
#12乾貨| 二次離子質譜大科普！TOF-SIMS及D-SIMS例項分析
二次離子質譜（ Secondary Ion Mass Spectrometry ，SIMS）是通過高能量的一次離子束轟擊樣品表面，使樣品表面的原子或原子團吸收能量而從表面發生濺射 ...
-
#13二次離子質譜的原理組成和結構 - 人人焦點
二次離子質譜. Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS). 1 引言: 離子探針分析儀，即離子探針（Ion Probe Analyzer，IPA），又稱二次離子 ...
-
#14飛行時間二次離子質譜儀(TOF-SIMS) PHI nanoTOF - 博精儀器
原理 說明指帶有幾千電子伏特能量的一次離子束入射樣品表面，在作用區域激發出不同粒子包括二次電子、中性微粒、二次離子、反射離子等，通過不同的探測器採集不同微粒可 ...
-
#15TOF-SIMS原理和常见问题解答_离子 - 搜狐
二、TOF-SIMS 飞行时间二次离子质谱仪原理. 1、利用聚焦的一次离子束在样品上进行稳定的轰击，一次离子可能受到样品表面的背散射（概率很 ...
-
#16二次離子質譜（SIMS）分析技術及應用 - 每日頭條
2021年10月8日 — TOF-SIMS的原理及特點飛行時間-二次離子質譜儀（TOF-SIMS），是一種非常靈敏的表面分析技術。它利用一次離子激發樣品表面微量的二次離子，根據二次 ...
-
#17元素分析方法汇总-SIMS
常用的元素分析设备对比. 图片. No. 01. SIMS原理. 一定能量的离子打到固体表面会引起表面原子分子或原子团的二次发射，即离子溅射。溅射的粒子一般以中性为主，其中有 ...
-
#18tof-sims分析——看完你就懂了！ - 日間新聞
飛行時間二次離子質譜技術TOF-SIMS的原理及特點飛行時間-二次離子質譜儀（TOF-SIMS），是一種非常靈敏的表面分析技術。它利用一次離子……
-
#19AFM和ToF-SIMS的工作原理及在植物纤维表面分析中的应用- 期刊
【摘要】 介绍了先进的表面分析仪器化学分析电子能谱(XPS)、原子力显微镜(AFM)、含飞行时间分析器的二次离子质谱仪(ToF-SIMS)的工作原理,回顾了近年来它们在植物纤维 ...
-
#20全質譜掃描分析表面成分2. 離子影像 - 清華大學貴重儀器中心
主項儀器：MS-二次離子質譜儀(SIMS). 細項儀器：O2、Cs 任選. Step 2 送樣 ... 離子束質譜術的原理與應用，凌永健，科儀新知1990, 12(2), 20-37.
-
#21二次イオン質量分析(SIMS) | 東芝ナノアナリシス株式会社
原理. 真空中で固体表面にCs + やO2 + などの一次イオンを照射すると、試料表面から電子・中性粒子・イオンが弾き出されます(スパッタリング)。
-
#22元素分析方法汇总-SIMS - 知乎专栏
常用的元素分析设备对比01SIMS原理一定能量的离子打到固体表面会引起表面原子分子或原子团的二次发射，即离子溅射。溅射的粒子一般以中性为主， ...
-
#23二次離子質譜儀原理與生醫應用研討會 - TMU
「飛行日時間式二次離子質譜儀原理與生醫應用研討會」。 Sub=micron TOF SIMS Imaging of Biological Materials. 析界享譽盛名的Dr.John S. Harrnond, ...
-
#24要创造SIMS 所需的条件，真空技术至关重要
例如，该分析仪可以采用ToF-MS（飞行时间质谱）中使用的飞行管，或者四极杆质谱仪中的四极过滤器。产生的二次离子既可为阳离子，也可为阴离子。不需要额外离子源。 工作 ...
-
#25第二章分析方法及原理
TOF-MS 其偵測原理為當中性的原子或分子在靜電場中瞬間被游離時，即成 ... 快且靈敏度也可以藉由使用選擇離子偵測法SIM（Selected Ion Monitoring）而提.
-
#26電子工程學系電子研究所碩士班 - 國立交通大學機構典藏
KFM 為掃描探針技術，可進. 行二維平面掃描，具有非破壞性及高解析度的優點，且其利用測量表面電. 位得知載子濃度的方式亦與SIMS 測量雜質元素濃度的原理有所不同. [18]。
-
#27飞行时间二次离子质谱仪TOF-SIMS - 铄思百检测
SIMS 工作原理是指带有几千电子伏特能量的一次离子束入射样品表面，在作用区域激发出不同粒子包括二次电子、中性微粒、二次离子、反射离子等，如图1所示； ...
-
#28二次イオン質量分析(SIMS) | 株式会社東レリサーチセンター
二次イオン質量分析(SIMS) (Secondary Ion Mass Spectrometry：SIMS). 原理. イオン(通常はCs + またはO2 + )を固体表面に照射すると、スパッタリング(試料構成原子が真空 ...
-
#29HE SIMS: -百科知識中文網
相關詞條. 二次離子質譜儀. （SIMS）是一種基於質譜的表面分析技術，二次離子質譜原理是基於一次...1982年它才被用於SIMS儀器設計上。早期將TOF用於表面分析質譜儀器 ...
-
#30TOF-SIMS基本原理、技术特点、应用案例，当堂答疑一分不花！
飞行时间二次离子质谱仪（简称TOF-SIMS），使用一次脉冲离子入射固体材料表面，通过表面激发出的二次离子的飞行时间测量其质量, 以表征材料表面的元素 ...
-
#31一文認識TOF-SIMS - 今天頭條
TOF-SIMS的原理及特點. 飛行時間-二次離子質譜儀（TOF-SIMS），是一種非常靈敏的表面分析技術。它利用一次離子激發樣品表面微量的二次離子，根據二次 ...
-
#32「二次離子質譜儀ppt」懶人包資訊整理 (1) | 蘋果健康咬一口
原理 、檢測功能，並與二次離子質譜儀(SIMS)、 Auger 電子能譜儀(AES)、 X 光電子能 ... 二次离子质谱（ Secondary Ion Mass Spectrometry ，SIMS）是 ..., 3）元素（或 ...
-
#33sims 分析
質譜原理：Secondary-ion-mass spectroscope （SIMS）是一種基于質譜的表面分析技術，二次離子質譜原理是基于一次離子與樣品表面互相作用現象（基本原理如下圖所示）。
-
#34ダイナミックSIMSの分析手法、原理｜アメテック カメカ事業部
D-SIMS（ダイナミックSIMS）の分析手法、原理について. 1. D-SIMSとは？（Static SIMSとの違い、応用分野） ...
-
#35飞行时间二次离子质谱－强有力的表面、界面和薄膜分析手段
二次离子质谱（Secondary ion mass spectrometry，简称SIMS）是一种对表面灵敏的质谱技术，建立在表面各 ... 本文简述了TOF-SIMS的原理、仪器及其多方面的应用和展望。
-
#36MST｜［SIMS］二次イオン質量分析法
飛び出してきた粒子のうちイオン(二次イオン)を質量分析することで、試料中に含まれる成分の定性・定量を行います。 原理. データ例. 濃度（atoms/cm 3 ） ：1立方cmあたりの ...
-
#37二次中性粒子質譜分析儀介紹 - 材料世界網
當SNMS 不使用“過渡游離”(Post-ionization)功能時，SNMS 就變為二次離子質譜儀(Secondary Ion Mass Spectrometer, SIMS)。本文介紹SNMS 檢測原理、 ...
-
#38表面与界面分析次级离子质谱分析（SIMS) - ppt download
提要SIMS的发展历史SIMS的基本原理SIMS的仪器结构SIMS的实验方法SIMS的应用2002年6月7日星期五清华大学化学系材料与表面实验室.
-
#39二次离子质谱仪原理、发展和分类
二次离子质谱仪（SIMS）用高能电离轰击样品表面，这导致样品表面上的原子或原子团吸收能量并通过溅射产生二次粒子。这些带电粒子通过质量分析器后，可以获得有关样品 ...
-
#40氣相層析質譜儀(Gas Chromatography Mass Spectrometry, GC ...
GC-MS 相當適用於同時具備目標或非目標分析需求的每日樣品分析，因為這些系統可透過使用選定目標離子監測(SIM) 或非目標全掃描擷取來操作。典型應用包括食品及環境樣品的 ...
-
#41課程學習目標與核心能力之對應 - 南臺科技大學
課程概述, 介紹光電材料的各種檢測方法、原理及其應用。 ... 2, 了解常用光電材料檢測設備之工作原理。 1 工程知識 ... 二次離子質譜儀(SIMS)量測材料之摻雜濃度。
-
#42TOF-SIMS(飛行時間二次離子質譜儀) - 華人百科
... 一個全譜，離子利用率最高，能最好地實現對樣品幾乎無損的靜態分析，而其更重要的特點是只要降低脈衝的重複頻率就可擴展質量範圍，從原理上不受限制。
-
#43飛行時間二次離子質譜儀的原理與應用 | 健康跟著走
本文介紹SNMS 檢測. 原理、檢測功能 ... ,二次离子质谱（ Secondary Ion Mass Spectrometry ，SIMS）是通过高能量的一次离子束轰击样品表面， ... 1 质谱原理; 2 发展历史; ...
-
#44Implant SIMS笔记(离子注入机二次离子质谱笔记) - 智于博客
首先，我们来看下什么是SIMS？ 技术原理（https://www.ma-tek.com/zh-cn/services/index/Pro_category_06）. 材料经由带有能量的入射离子轰击而产生二 ...
-
#45表征掺杂浓度的近似含量- 二次离子质谱(SIMS) - 科学指南针
其原理是带有几千电子伏的能量的一次离子束入射样品表面。 在做作用区域发出不同粒子，包括二次电子，中性微粒、二次离子、反射离子等，如下图1 ...
-
#46以SIMS分析真空材料表面上射頻輝光放電的清洗效果
本文在探討射頻(RF)與直流(DC)輝光放電對鋁合金真空材料表面的清洗效果。實驗中分別以氫氣H2、氬氣Ar及氮氣N2做為輝光放電的氣體，藉由二次離子質譜儀(SIMS)分析輝光 ...
-
#47材料與能源工程系 - 遠東科技大學
... 大學醫學院蕭長春教授、臺北醫學大學麥富德教授(101.06.07). 觀看其他相簿. 移植臍帶間質幹細胞治療肝臟纖維化鼠的研究. TOF-SIMS的原理及在生物醫學研究上的應用 ...
-
#48二次离子质谱原理科普及实例分析 - 网易
与其他表面分析技术相比，SIMS技术的主要优点之一是可以检测从氢到铀的所有元素及其同位素，某些元素的检测下限可以达到ppm~ppb级。目前，SIMS仪器的深度 ...
-
#49TOF-SIMSとは - 表面分析情報 - Ulvac-Phi
原理. 飛行時間型二次イオン質量分析法（TOF-SIMS：Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry)は、固体試料にイオンビーム（一次イオン）を照射し、表面から ...
-
#50二次离子质谱仪（SIMS）分析技术及其在半导体产业中的应用
SIMS原理 示意图如图1所示。能量在250 eV到30 keV的离子束轰击样品表面即可产生溅射现象。一次离子进入基体后会产生大量高强度 ...
-
#51《模擬市民社會》釋出「堆疊原理」佈置技巧及創意夢想家作品
《模擬市民社會（The Sims Social）》從推出至今，在最近一次的統計中，DAU（每日活躍用戶）已創下1 千1 百萬的驚人數字。 在世界各地玩家的不斷摸索 ...
-
#52TOF SIMS （飞行时间二次离子质谱仪）
与全反射X荧光分析仪（TXRF）相比，TOF-SIMS具有与其可比的灵敏度，且对轻元素的分析具有更高的灵敏度，其分析区域更 ... 动画演示飞行时间二次离子质谱仪的工作原理 ...
-
#53SIMS溅射深度剖析的定量分析 - 真空技术网
本文综述了二次离子质谱(Secondary Ion Mass Spectroscopy，SIMS)溅射深度剖析的发展历史，介绍了SIMS 溅射深度剖析的定量分析方法。
-
#54TOF-SIMS原理和应用_Educ - 博客- 新浪
TOF-SIMS原理和应用_Educ_新浪博客,Educ, ... TOF-SIMS 采用一次的脉冲离子源激发固体表面的原子和分子基团脱附或离化。所产生的二次离子被加速到在 ...
-
#55表面分析- 國立成功大學- 課程地圖
課程簡介，包括表面的定義、表面結構、及表面分析儀器中所具備的真空技術; 化學分析電子光譜(ESCA)及歐傑電子光譜(AES)之分析原理與應用; 二次離子質譜儀(SIMS)之分析 ...
-
#56二次離子質譜（SIMS）如何在檢測實驗室中進行有機結構分析
二次離子質譜（Secondary Ion Mass Spectroscopy，SIMS）是一種重要的材料成分分析方法。SIMS技術的原理是以一定能量（通常為幾百至幾萬eV）的初級離子束入射到材料 ...
-
#57透過eSIM 功能來使用雙SIM 卡
eSIM 屬於數碼SIM 卡，無需實體nano-SIM 卡也能夠啟用網絡供應商的流動網絡計劃。在iPhone 13 Pro Max、iPhone 13 Pro、iPhone 13 和iPhone 13 mini，你可使用兩張已 ...
-
#58雙卡懂了嗎?雙卡手機的類型與原理解析 - Sogi!手機王
幸好近期不少廠商紛紛推出SIM 1、SIM 2 卡槽皆能插上4G / 3G SIM 卡，並能在設定功能中手動調整要使用網路訊號的卡片，像是HTC One E9+ dual sim 即為此 ...
-
#59二次イオン質量分析法 －TOF-SIMS法の紹介－ ｜SI NEWS
原理 的には、イオンビームを固体試料に照射して、表面から発生する二次イオンを質量分析するものであるが、 質量分析計の方式により、扇型の電場と磁場を組み合わせた ...
-
#60聚合物表面和界面分析之XPS和tof-sims的原理 - 材料与测试网
本文将通观x射线光电子能谱（XPS或称ESCA）和质谱仪（tof-sims）。这两种技术是最有用的分析技术，用于研究聚合物表面和界面的化学结构。
-
#61二次離子質譜技術在半導體材料中的檢測原理及案例應用
Sims 可以獲得材料表面單原子層的元素資訊，具有很高的元素檢出限（高達ppm甚至ppb）。在高真空條件下，具有一定能量幾百至幾萬EV的初級離子束轟擊待分析 ...
-
#62SIMS(secondary ion mass spectroscopy)二次离子质谱 - 博客园
对，原理就这么简单。 3.应用. #掺杂和杂质深度剖析； #薄膜（金属，电介质 ...
-
#63二次離子質譜
二次離子質譜（英語：Secondary Ion Mass Spectroscopy, SIMS）是用來分析固體表面或者是薄膜的化學成分 ... 它的原理除了採用離子槍轟擊激發以外，其餘與質譜儀完全相同。
-
#64初心者のための TOF-SIMS 分析の勘どころ - J-Stage
図 1 に TOF-SIMS 装置の原理. を示す． 飛行時間型の質量分析装置は以下の特徴を持つ． 高効率：原理的に発生した二次イオンの ...
-
#65什麼是MCCC 以及它在模擬人生4 中的工作原理| 提示/指南
MC Command Center 可在Mod The Sims 中下載，並且可以在這裡找到. 一定要經常檢查頁 ...
-
#66飞行时间二次离子质谱仪（TOF-SIMS）介绍 - 嘉峪检测网
上述特点使TOF-SIMS在材料的成份、掺杂和杂质沾污等方面的分析中拥有不可替代的地位。 2.原理. 1. 利用聚焦的一次离子束在样品上进行稳定的轰击， ...
-
#67半導體材料分析技術與應用
質譜儀：Such as SIMS，用質荷比鑑定元素種類 ... SIMS ions ions xy: 150 um; z : < 1nm. 500 ~ 10000 ... 基本原理：用高能電子撞擊待測物，再用適當的.
-
#68SIMS - 材料分析- 服務項目- 汎銓科技~MSScorps-半導體等高階 ...
SIMSSIMS(Secondary Ion Mass Spectrometry) 二次離子質譜儀SIMS以帶能量之一次離子入射而撞擊樣品表面，激發出二次離子，藉由量測此二次離子之荷質比(M/e)值， ...
-
#69教学工具: 质谱基本原理 - Agilent
质谱基本原理： ... 工作原理. • 离子化. • 电子轰击. • 化学电离 ... 四极杆中的SIM 能够实现最佳的定量灵敏度，. 但是它不具备特异性。
-
#70飞行时间二次离子质谱仪（TOF-SIMS）介绍-美信检测
上述特点使TOF-SIMS在材料的成份、掺杂和杂质沾污等方面的分析中拥有不可替代的地位。 2.原理 1. 利用聚焦的一次离子束在样品上进行稳定的轰击，一次离子 ...
-
#71TOF-SIMS - 纳米真空互联实验站
三、设备原理. 飞行式二次离子质谱（TOF-SIMS）是超真空环境下向样品射入一次离子束，从样品的浅表层（1-3 nm）释放出二次离子。将二次离子导入飞行时间（TOF型）质谱 ...
-
#72tof sims的情報與評價， 網路上有這樣的資料
(Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometer (TOF-SIMS). 儀器廠牌型號. IONTOF, TOF.SIMS 4,Germany. 購入日期. 2003年. 儀器原理. ... <看更多> ...
-
#73产品-飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS) 德国IONTOF
飞行时间二次离子质谱（TOF-SIMS）是德国IONTOF最主要的高端表面分析设备之一。性能突出的最新一代M6型TOF-SIMS系统非常 ... 点击图片了解ToF-SIMS 原理、功能、性能） ...
-
#74静态二次离子质谱（TOF-SIMS） - 测试狗
TOF-SIMS静态二次离子质谱，测试离子强度，定性测试，不能定量。 ... 一、TOF-SIMS的原理及特点飞行时间-二次离子质谱仪（TOF-SIMS），是一种非常灵敏的表面分析技术。
-
#75研討會歐陸食品檢驗
二次離子質譜法的基本原理和應用二次離子質譜(SIMS) 表面和微量金屬分析技術氣相分解(VPD) 全反射X-射線螢光分析(TXRF) 飛行式二次離子質譜(TOF-SIMS)
-
#76SIMS(secondary ion mass spectroscopy)二次离子质谱 - CSDN ...
对，原理就这么简单。 3.应用. #掺杂和杂质深度剖析； #薄膜（金属，电介质，SiGe，III-V和II- ...
-
#77为什么飞行时间质谱（TOFMS）是相对于四级杆质谱（QMS ...
四级杆原理动画图。同一时间，只有特定m/Q值的离子才能通过；其他离子都会被'丢'掉。这里的动图中，选择性离子检测（SIM）用来测量了三个较小质荷比的离子（蓝色、黄色 ...
-
#78Faraday cup 一為電子倍增器electron multiplier - Course Hero
離子幫浦之原理乃是利 用高電場將氣體分子游離，並使其所產生之離 子受電場作用撞向 ... 10 6-4.2 二次離子質譜儀分析（ SIMS ） 通常為了能自由操縱位於超高真空內之 ...
-
#79TOF-SIMS | 概念理论| 技术资料
基本原理. 指带有几千电子伏特能量的一次离子束入射样品表面，在作用区域激发出不同粒子包括二次电子、中性微粒、二次离子、反射离子等，通过不同的探测器采集不同微粒 ...
-
#80应用笔记| N-SIM E | 超分辨显微镜| 产品| 尼康仪器（上海）有限 ...
In this Application Note, we introduce examples of imaging (using the N-SIM super-resolution microscope) performed by pharmaceutical scientist Dr. Tsukasa ...
-
#81sims 元素分析硅中氧、碳的二次離子質譜(SIMS)分析 - CCAGM
スパッタリング現象に伴って，（5）元素靈敏度高，生物 ダイナミック SIMS の 分析 手法、原理｜アメテックカメカ事業部. TOF-SIMSによる表面分析飛行時間型二次 ...
-
#82SIMS(secondary ion mass spectroscopy)二次離子質譜- 碼上快樂
對，原理就這么簡單。 3.應用. #摻雜和雜質深度剖析； #薄膜（金屬，電介質，SiGe，III- ...
-
#83二次離子質譜儀 - Bcyusp
二次離子質譜分析儀(SIMS) 二次離子質譜分析儀(Secondary Ion Mass Spectrometer，舉辦「飛行時間式二次離子質譜儀原理與生醫機臺編號儀器名稱設備使用聯絡人分機開放 ...
-
#84sims 分析
原理. SIMSのスパッタ深さ分析では，日本では二次イオン質量分析計二次離子質譜技術（Dynamic Secondary Ion Mass Spectrometry，EPMA的比較分析項目檢測說明範例1 ...
-
#85sims分析原理– 第一性原理 - Winninam
質量分析SIMSの原理中性粒子電子二つの分析モード‣ダイナミックSIMS 元素分析。 半導体等の無機材料における微量元素分析深さ方向分析, 等。
-
#86nfc sim原理
nfc sim原理. 在20 公分距離內以13.56MHz 頻率範圍運作，638 views 中移動NFC專用SIM卡測試報告– 212， NFC是一種提供輕松，其傳輸范圍比RFID小，在整個通信過程中提供 ...
-
#87二次離子質譜儀tof-sims - Vscizr
名稱飛行時間二次離子質譜儀(Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometer (TOF-SIMS) 儀器廠牌型號IONTOF， TOF.SIMS 4， Germany 購入日期2003 年儀器原理二次離子 ...
-
#88计量经济学导论 - 第 184 頁 - Google 圖書結果
Granger 因果关系存在( Sims , 1972 ;古扎拉蒂, 2004 )。假设 X 与 Y 为两个变量, ... 如果 Sims 因果检验与 Granger 因果检验保持一致,那么镜子原理就必然成立。
-
#89电子材料导论 - 第 44 頁 - Google 圖書結果
SIMS 探测的深度为表面单层,对轻元素(如氢及其化合物)特别灵敏。 ... 3 濺射中性粒子谱濺射中性粒子谱( SNMS )的分析原理与 SIMS 非常类似。所不同的是,它将表面溅射 ...
-
#90sims 分析– 二次離子質譜儀 - Phoenixwer
電線短路熔痕以二次離子質譜儀（SIMS）作表面分析之鑑識方法__ … ... TOF-SIMS（飞行时间二次离子质谱仪）工作原理1 利用聚焦的一次离子束在样品上进行稳定的轰击， ...
-
#91Class Charts: School Seating Planner & Behavior ...
Class Charts is super fast behavior management software, creating school seating plans in seconds. Link our behavior & seating plan software with SIMS, ...
-
#92二次離子質譜
SIMS 4,Germany. 購入日期. 2003 年. 儀器原理. 分析過程為使用聚焦的一次離子束打到待測樣品表面Secondary ion mass spectrometry 次離子質譜學與Cameca NS50 二次離子 ...
-
#93无线通信原理与应用 - Google 圖書結果
... 二部分| TFCI 码字第三部分 TFCI 码字第四部分数据特号中间码数据符号 G P 数据符号中间码数据符号 G || |时戲( 864chip )时隙 r ( 86dchip )子顿 Sims 子顿 Sims ...
-
#94材料物理學概論 - 第 178 頁 - Google 圖書結果
( 3 )濺擊中性粒子譜濺擊中性粒子譜( sputtered neutral mass spectrometry , SNMS )的分析原理與 SIMS 非常類似,不同的是,它將表面濺擊出來的粒子全部電離後再進行質譜 ...
-
#95二次离子质谱原理 - vnnd
二次离子质谱原理,提一个有关二次离子质谱测试的问题- 分析- 小木虫- ,2、痕量元素 ... 五、小结本文简单介绍了飞行时间二次离子质谱仪(TOF-SIMS)的基本原理、结构和应用。